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产品名称: 微量分析天平
产品型号: XP26
产品展商: 申贝
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简单介绍
超越系列XP微量分析天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本.微量分析天平具抗过载保护的传感器
微量分析天平
的详细介绍
梅特勒超越系列**型XP微量天平——高性能微量分析天平
梅特勒-托利多正在改变着微量分析天平世界。超越系列XP微量分析天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本，尤其是在称量昂贵样品时。
功能和特点
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称量性能：该系列微量分析天平可以提供现有分析天平具有的*高分辨率：高达无可匹敌的50,000,000位。
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天平操作：触摸显示屏提供无可比拟的用户友好的操作界面。多达8个个性化设置的用户操作界面可以被自由设定、保持和恢复。
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SmartSens红外感应器：无需用手接触天平就可以开关防风门，将样品放置在秤盘上。称量操作更快速、更便捷。
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标准特性
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所有型号：
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触摸操作的背亮图形显示屏，
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具抗过载保护的传感器
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proFACT，全自动时间及温度触发的校准技术
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SmartSens红外感应器，实现无需用手接触的操作
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可更换的显示屏塑料保护罩
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所在国家适用的电源适配器
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从互联网下载天平操作软件
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显示多种称量单位
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测量固体和液体的密度
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进行差量称量
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校验移液器的精度
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进行统计评估
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自由因子计算
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进行计件和百分比称量
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MinWeigh*小称量值功能（由MT服务工程师激活）
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规格 梅特勒 XP26 微量分析天平
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*大称量范围
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22 g
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可读性
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1 µg
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重复性
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1.5 µg
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灵敏度（长时间稳定）
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1x10-6/a•Rnt
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灵敏度（温度取样泵漂移）
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1x10-6/°C•Rnt
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稳定时间（典型）
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3.5s
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外部砝码校准
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可选
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内部砝码校准
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ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校
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尺寸
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263x487x322 mm
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称量盘上方的有效高度
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111 mm
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接口
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RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN
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Linearity
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6 µg
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Size of weighing pan
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40x40 mm
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Minimum weigh (typical acc. USP)
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2.1 mg
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Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2)
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0.14 mg
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Sensitivity offset
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4x10-6·Rnt
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