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x射线荧光镀层测厚分析仪T300S是公司自主研发设计得一款独具质感且具有性价比的膜厚仪，价格合理，物超所值，轻松快速解决各平面件常规镀层、电镀液检测，检测精度高且能自动判定测试结果。
应用领域
▪电镀镀层厚度分析 ▪紧固件 ▪五金配件 ▪汽车零部件 ▪电镀液分析
技术参数
测量元素范围 S（16）-U（92） 探测器 Si-Pin 半导体探测器 X 射线发生装置 ** X 射线管 算法 FP 算法 分析软件 可同时分析 5 层镀层，24 种元素 信号处理器 数字多道技术 高压 0-50KV 智能程控高压系统 准直器 标配Φ0.5mm 样品观察 工业 CCD 高清摄像头 放大倍数 光学放大 30 倍 **系统 多维散热系统、多重辐射**系统 软件操作 智能分析、一键操作 外观尺寸 414*416*362mm 腔体尺寸 268*307*97mm
检测实例 下表为：紧固件ZnNi/Fe含量与厚度测试数据 性能优势 即放即测 开槽腔体设计，放置样品后快速无损分析出结果 一键操作、自动匹配 一键无标样测试，自动识别物料，几秒快速出结果却**稳定，减少误选带来的测试误差 高分辨率探测器 分辨率低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度 智能化软件 人性化的软件界面，灵活的数据显示与编辑、导出，操作智能、便捷 多重保护系统 仪器硬件功能实时监控，多重**保护装置，让您的使用更加放心
苏公网安备32050602013370