镀层测厚仪T300V是我们专门设计研发的一款下照式结构的镀层测厚仪，性价比高、适用性强。仪器采用FP算法同时搭配高速数字多道技术，应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出限低，性能稳定，检出限可达0.005um，是一款颇具客户好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。

详细介绍

镀层测厚仪T300V是我们专门设计研发的一款下照式结构的镀层测厚仪，性价比高、适用性强。仪器采用FP算法同时搭配高速数字多道技术，应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出限低，性能稳定，检出限可达0.005um，是一款颇具客户好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。

应用领域

高技术配置，值得更优性能

相比图2普通接收器，T300V采用了高分辨率探测器，能**的将不同元素的信号准确解析，针对单层、多层或复杂合金镀层的测量，测量精度更高，稳定性更好。

仪器参数

选择T300V的理由

实例