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便携式紫外线强度计（单通道）UV-B执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。
便携式紫外线强度计UV-B型采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
光谱及角度特性经严格校正
轻触按键操作，蜂鸣提示
技术标准
项目 参数 备注 波长范围λ1，峰值波长λp （230～275）nm，λP＝254nm 用户二选一 波长范围λ2，峰值波长λp （275～330）nm，λP＝297nm 辐照度测量范围 (0.1～199.9×103) μW/cm2 紫外带外区杂光 UV254<0.1%，UV297<0.05% 相对示值误差 ±8％（相对于NIM标准） 角度响应特性 ±5% （α≤10°） 线性误差 ±1% 换档误差 ±1% 短期不稳定性 ±1%（开机30min后） 疲劳特性 衰减量<2% 零值误差 满量程的±1% 响应时间 <1秒 使用环境 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH 尺寸和重量 160mm×78mm×43mm；0.2kg 电源 6F22型9V积层电池（非充电电池） 整机功耗 ＜0.1VA
苏公网安备32050602013370