微量分析天平 XP26 申贝科学仪器（苏州）有限公司

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微量分析天平

产品型号：XP26

产品简介：

超越系列XP微量分析天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本.微量分析天平具抗过载保护的传感器

详细介绍

梅特勒超越系列**型XP微量天平——高性能微量分析天平

梅特勒-托利多正在改变着微量分析天平世界。超越系列XP微量分析天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本，尤其是在称量昂贵样品时。

功能和特点

称量性能：该系列微量分析天平可以提供现有分析天平具有的*高分辨率：高达无可匹敌的50,000,000位。

天平操作：触摸显示屏提供无可比拟的用户友好的操作界面。多达8个个性化设置的用户操作界面可以被自由设定、保持和恢复。

SmartSens红外感应器：无需用手接触天平就可以开关防风门，将样品放置在秤盘上。称量操作更快速、更便捷。

标准特性

所有型号：

触摸操作的背亮图形显示屏，

具抗过载保护的传感器

proFACT，全自动时间及温度触发的校准技术

SmartSens红外感应器，实现无需用手接触的操作

可更换的显示屏塑料保护罩

所在国家适用的电源适配器

从互联网下载天平操作软件

显示多种称量单位

测量固体和液体的密度

进行差量称量

校验移液器的精度

进行统计评估

自由因子计算

进行计件和百分比称量

MinWeigh*小称量值功能（由MT服务工程师激活）

规格梅特勒 XP26 微量分析天平
*大称量范围	22 g
可读性	1 µg
重复性	1.5 µg
灵敏度（长时间稳定）	1x10-6/a•Rnt
灵敏度（温度取样泵漂移）	1x10-6/°C•Rnt
稳定时间（典型）	3.5s
外部砝码校准	可选
内部砝码校准	ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校
尺寸	263x487x322 mm
称量盘上方的有效高度	111 mm
接口	RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN
Linearity	6 µg
Size of weighing pan	40x40 mm
Minimum weigh (typical acc. USP)	2.1 mg
Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2)	0.14 mg
Sensitivity offset	4x10-6·Rnt

苏公网安备32050602013370