XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平 XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 申贝科学仪器（苏州）有限公司

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XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平

XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平

产品型号：XP105DR/205/205DR/204/504/504DR

产品简介：

XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平 • 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求 • 天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校正/ 校准天平，确保称量结果始终准确 • 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

详细介绍

梅特勒-托利多分析天平
XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平
产品特征

• 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求

• 天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校正/

校准天平，确保称量结果始终准确

• 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

• 完全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁

• 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件

称量、百分比称量、密度测量、差重称量

技术参数

型号、XP105DR、XP205、XP205DR、XP204、XP504、XP504DR

型号	*大称量值（g）	可读性（mg）	重复性（sd）(mg)	线性误差（mg）	典型稳定时间（s）	秤盘尺寸（W*D）(mm)
XP105DR	31/120	0.01/0.1	0.015/0.06	0.15	1.5	78*73
XP205	220	0.01	0.03	0.1	2.5	78*73
XP205DR	81/220	0.01/0.1	0.015/0.06	0.15	1.5	78*73
XP204	220	0.1	0.07	0.2	1.5	78*73
XP504	520	0.1	0.12	0.4	1.5	78*73
XP504DR	101/520	0.1/1	0.1/0.6	0.5	1.5	78*73

苏公网安备32050602013370